X射線熒光光譜儀
簡要描述:X射線熒光光譜儀DX-320L:檢測ROHS有害元素,八大重金屬,鉛含量檢測。
- 產品型號:DX320
- 廠商性質:生產廠家
- 更新時間:2024-11-08
- 訪 問 量:4004
產品介紹
X射線熒光光譜儀
針對DX320L在各個領域的廣泛應用,根據優(yōu)化產品性能和提高安全防護等級的需求,特別設計該款DX320L。應用新一代的高壓電源和X光管,提高產的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率; 集合了多年ROHS檢測經驗,應用新一代,分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器,對六種有害元素尤其是Br等元素進行了優(yōu)化,提高儀器測試的穩(wěn)定性和精度性。
X射線熒光光譜儀
性能特點
工作曲線:提供開放性工作曲線功能,根據企業(yè)物料情況量身定做的有害元素檢測和控制方案;
準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用實現(xiàn)了全自動一鍵測試。
移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點
高分辨率探測器:采用,分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器,更有利于儀 器的穩(wěn)定性和精度性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達150W的功率實現(xiàn)更高的測試效率安全性能:全光路射線防護系統(tǒng)配合經典的三重安全防護設計,同時采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保輻射安全性能;
主要技術參數:
型號:DX-320L
測試對像:粉未、固體、液體
元素分析范圍:鈉(Na)—鈾(U)
含量分析范圍:1PPM—99.99%
測量時間:30—200秒
探測器:電制冷SDD半導體探測器
儀器分辨率:127eV±5
zui低檢出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm
Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm(八大重金屬)
多道分析器:2048道
輸入電壓:AC 220V±10%,50HZ(建議配穩(wěn)壓電源)
額定功率:300W(帶電腦)
環(huán)境濕度:30%--80%
外型尺寸:660mm×480mm×330mm
測量倉:440mm×350mm×150mm
儀器重量:62公斤
標準配置:
高低壓電源(美國Spellman進口)
大功率X光管(英國Oxford牛津進口)
電制冷半導體探測器(美國AMPTEK進口)
多道分析器(美國進口)
控制電路
高壓單元
移動樣品臺
高清晰CCD
準直器:含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個
濾光片:5組濾光片
計算機:品牌商務電腦(內存2G、硬盤200G),17寸液晶顯示器
打印機:彩色噴墨打印機
應用范圍:
RoHS檢測分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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